X熒光光譜分析儀iEDX-150uWT

價格
¥860,000.00

型號
iEDX-150uWT

品牌
ISP

所在地
廣東省 深圳市

更新時間
2024-08-16 14:32:32

瀏覽次數(shù)

    鍍層檢測,*多鍍層檢測可達(dá) 5 層;鍍液分析分析精度為 0.001ppm(選配功能)。

    2. 大可移動全自動樣品平臺 520*520 (長*寬),樣品移動距離前后左右各 250mm 、高度

    5mm;

    3. 激光定位和自動多點測量功能;

    4. 運行及維護(hù)成本低、無易損易耗品,對使用環(huán)境相對要求低;

       

    高性能高精度X熒光光譜儀(XRF)

    2. 計算機 / MCA(多通道分析儀)

    2048 通道逐次近似計算法 ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器)

    Multi Ray. 運用基本參數(shù)(FP)軟件,通過簡單的三步進(jìn)行無標(biāo)樣,使用基礎(chǔ)參數(shù)

    計算方法,對樣品進(jìn)行的鍍層厚度分析

    3. MTFFP (多層薄膜基本參數(shù)法) 模塊進(jìn)行鍍層厚度

    4. 勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

    吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

    線性模式進(jìn)行薄鍍層厚度測量

    相對(比)模式 無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

    多鍍層厚度同時測量

    單鍍層應(yīng)用 [如:Cu/ABS 等]

    雙鍍層應(yīng)用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu 等]

    三鍍層應(yīng)用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass 等]

    四鍍層應(yīng)用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb 等]

    合金鍍層應(yīng) [如:Sn-Pb/Cu ]

    5. Multi-Ray. WINDOWS7 軟件操作系統(tǒng)

    6. 完整的統(tǒng)計函數(shù)均值、 標(biāo)準(zhǔn)差、 低/高讀數(shù),趨勢線,Cp 和 Cpk 因素等

    7. 自動移動平臺,用戶使用預(yù)先設(shè)定好的程序進(jìn)行自動樣品測量。*測量點數(shù)量 = 每

    9999 每個階段文件。每個階段的文件有*多 25 個不同應(yīng)用程序。特殊工具如"線掃描"

    和"格柵"。每個階段文件包含完全統(tǒng)計軟件包。包括自動對焦功能、方便加載函數(shù)、瞄準(zhǔn)

    樣品和拍攝、激光定位和自動多點測量功能。

    三、產(chǎn)品配置及技術(shù)指標(biāo)說明

    1. X 射線管:高穩(wěn)定性 X 光光管,使用壽命(工作時間>18,000 小時)

    微焦點 x 射線管鉬、鎢、銠鈀(可選)

    焦斑直徑:35μm

    2. 探測器:SDD探測器

    能量分辨率:125±5eV

    以上信息由企業(yè)自行提供,信息內(nèi)容的真實性、準(zhǔn)確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負(fù)責(zé),儀器儀表交易網(wǎng)對此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。
    溫馨提示:為規(guī)避購買風(fēng)險,建議您在購買產(chǎn)品前務(wù)必確認(rèn)供應(yīng)商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量。

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