i-CHEQ F2-5100無損樣品分析一鍵式檢測

價格
電議

型號
i-CHEQ F2-5100

品牌
艾克

所在地
廣東省 深圳市

更新時間
2023-08-03 12:13:49

瀏覽次數(shù)

    艾克手持式合金分析儀設(shè)計:

    1. “一鍵式”開機并檢測。

    2. 重量輕、體積小,檢測頭為尖嘴設(shè)計,適用于狹小部位。

    3. 可進(jìn)行現(xiàn)場無損樣品分析,確定樣品中的元素種類。

    4. 開機一次,待機長不用關(guān)閉電源,無檢測操作時自動待機,同時光管及探測器斷電停止工作。

    5. 1/3機身為輕質(zhì)鋁合金結(jié)構(gòu),具有優(yōu)良的散熱效果。

    6. 開機優(yōu)于同類儀器;測試速度快,1-3秒內(nèi)身份等級鑒定。

    i-CHEQ F2-5100無損樣品分析一鍵式檢測

    儀器工作原理說明

    xrf就是x射線熒光光譜分析儀(x ray fluorescence sperometer) 。

    人們常常把x射線照射在物質(zhì)上所產(chǎn)生的次級x射線叫x射線熒光,而把用來照射的x射線叫原級x射線。

    當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能x射線與原子發(fā)生碰撞時,驅(qū)逐一個內(nèi)層電子而出現(xiàn)一個空,使整個原子體系處于不穩(wěn)定的激發(fā)態(tài),激發(fā)態(tài)原子壽命約為10-12~10-14s,然后自發(fā)地由能量高的狀態(tài)躍遷到能量低的狀態(tài)。

    當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空所釋放的能量不在原子內(nèi)被吸收,而是以輻射形式放出,便產(chǎn)生x射線熒光(特征x射線),其能量等于兩能級之間的能量差。

    特征x射線熒光產(chǎn)生:碰撞→躍遷↑(高) →空→躍遷↓(低)

    不同元素發(fā)出的特征x射線熒光能量和波長各不相同,因此通過對其的能量或者波長的測量即可知道它是何種元素發(fā)出的,進(jìn)行元素的定性分析。線強度跟這元素在樣品中的含量有關(guān),因此測出它的強度就能進(jìn)行元素的定量分析。

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