直流耐壓絕緣電阻測(cè)試儀ST5680
直流耐壓測(cè)試、絕緣電阻測(cè)試、絕緣擊穿電壓測(cè)試、波形顯示功能、ARC放電檢測(cè)功能、接觸檢查功能 (詳情請(qǐng)參照“各測(cè)試·功能”表)
功耗
大額定功率
接口
通訊:USB,LAN,EXT. I/O
選件:RS-232C(Z3001),GP-IB(Z3000)
尺寸·重量
305(W)×142(H)×430(D)mm(不含突起物)10.0 kg ± 0.2 kg
附件
·波形·圖形保存到U盤(pán)保存格式:BMP、PNG、CSV文件
·面板保存功能將測(cè)試條件保存在主機(jī)內(nèi)存中直流耐壓測(cè)試模式/絕緣電阻測(cè)試模式:多64個(gè)程序測(cè)試:多30個(gè)(多50步)絕緣擊穿電壓測(cè)試:多10個(gè)
·數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能測(cè)量值保存在內(nèi)存,多32000個(gè)
判定為PASS,判定為FAIL(UPPER FAIL,LOWER FAIL)UPPER_FAIL:測(cè)量值>上限值PASS:上限值≥測(cè)量值≥下限值LOWER_FAIL:測(cè)量值<下限值
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直流耐壓絕緣電阻測(cè)試儀ST5680
基本參數(shù)(精度保證時(shí)間1年)
直流耐壓測(cè)試、絕緣電阻測(cè)試、絕緣擊穿電壓測(cè)試、波形顯示功能、ARC放電檢測(cè)功能、接觸檢查功能 (詳情請(qǐng)參照“各測(cè)試·功能”表)
EMC:IEC 61326
功耗
※ 電源條件為電源電壓220 V、電源頻率 50/60 Hz、測(cè)試模式直流耐壓測(cè)試、測(cè)試電壓2.5 kV、負(fù)載電流5 mA負(fù)載電阻500 kΩ)的情況下。
大額定功率
接口
通訊:USB,LAN,EXT. I/O
選件:RS-232C(Z3001),GP-IB(Z3000)
存儲(chǔ):U盤(pán)尺寸·重量
305(W)×142(H)×430(D)mm(不含突起物)
10.0 kg ± 0.2 kg
附件
各測(cè)試·功能
負(fù)載變動(dòng):± 1% 以下
輸出設(shè)置精度:±(1.2% of setting + 20 V)
輸出電流/截止電流:100 mA max
電流精度:3.00 mA <:±(1.5% rdg.+2 μA)≤ 3.00 mA:±1.5% rdg.
小分辨率:0.001 μA
測(cè)試時(shí)間:0.1 s ~ 999 s,Continue(Timer OFF)
電壓上升/下降時(shí)間:0.1 s ~ 300 s / 0.1 s ~ 300 s,OFF
短路電流200 mA 以下
測(cè)試模式W→IR,IR→W,程序測(cè)試
輸出設(shè)置精度:±(1.2% of setting + 2 V)
電阻值顯示范圍:10.00 kΩ ~ 200.0 GΩ(0.01 kΩ分辨率)
精度保證范圍:10.00 kΩ ~ 99.99 GΩ
電阻精度:±(1.5% rdg. + 3 dgt.)*詳情參考下部表格
測(cè)試時(shí)間:0.1 s ~ 999 s,Continue(Timer OFF)
電壓上升/下降時(shí)間:0.1 s ~ 300 s / 0.1 s ~ 300 s,OFF
測(cè)量?jī)?nèi)容:絕緣擊穿電壓(kV),絕緣擊穿的強(qiáng)度(kV/mm)
設(shè)定內(nèi)容:初始電壓,結(jié)束電壓,升壓速度,ARC檢測(cè),電間距離,電流上限值
采樣速度:500 kS/s
分辨率:256 K words
設(shè)定內(nèi)容:測(cè)試電壓變動(dòng)率1%~50%
·波形·圖形
保存到U盤(pán)
保存格式:BMP、PNG、CSV文件
·面板保存功能
將測(cè)試條件保存在主機(jī)內(nèi)存中
直流耐壓測(cè)試模式/絕緣電阻測(cè)試模式:多64個(gè)
程序測(cè)試:多30個(gè)(多50步)
絕緣擊穿電壓測(cè)試:多10個(gè)
·數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能
測(cè)量值保存在內(nèi)存,多32000個(gè)
判定為PASS,判定為FAIL(UPPER FAIL,LOWER FAIL)
UPPER_FAIL:測(cè)量值>上限值
PASS:上限值≥測(cè)量值≥下限值
LOWER_FAIL:測(cè)量值<下限值
絕緣電阻測(cè)量精度(精度保證測(cè)試電壓范圍:50 V ~ 2000 V)
1.00 GΩ ~ 99.99 GΩ
*2, *3, *4
100.0 MΩ ~ 999.9 MΩ
*2, *3, *4
10.00 MΩ ~ 99.99 MΩ
*2, *3, *4
1.000 MΩ ~ 9.999 MΩ
*2, *3, *4
100.0 kΩ ~ 999.9 kΩ
*2, *3, *4
※2:當(dāng)測(cè)試電壓為10 V~99 V時(shí),測(cè)量精度加算±10%
※3:當(dāng)測(cè)試電壓為100 V~999 V時(shí),測(cè)量精度加算±5%
※4:當(dāng)測(cè)試電壓為1000 V~2000 V時(shí),測(cè)量精度加算±2%