博曼G系列產品概述:
G系列是博曼*的一款機型。該機型機構緊湊,沒有可移動部件。與博曼其他系列不同,該系列X射線照射方式采用自下往上式。用戶可將樣品放置在一個清晰的測試窗口上,并使用相機對圖像進行定位。G系列的樣品倉較小,可手動調整樣品位置測量樣品,該系列主要應用于珠寶和其他貴金屬行業(yè)的鍍層分析與應用。
G系列標準配置包括一個固定準直器,一個固定焦距的相機,固態(tài)PIN探測器和質量可靠的微聚焦X射線管。與其他型號一樣,該型號也可升級為包括多個準直器,可變焦點相機和SDD探測器。
博曼G系列可滿足以下類型用戶的需求:
- 樣品測試量相對較小
- 客戶或供應商對于鍍層提出了新要求
- 主要分析珠寶或其他貴金屬
- 預留擺放空間小
- 預算有限
博曼G系列產品參數:
類別
參數
元素測量范圍:
X射線管:
探測器:
分析層數及元素數:
濾波器/準直器:
焦距:
數字脈沖器:
計算機:
相機:
電源:
重量:
馬達控制/可編程XY平臺:
延伸可編程XY平臺:
樣品倉尺寸:
外形尺寸:
13號鋁元素到92號鈾元素
50 W(50kV和1mA)微聚焦鎢鈀射線管
190eV及以上分辨率的Si-PIN固態(tài)探測器
5層,每層可分析10種元素,成分分析*多可分析25種元素
4位置一次過濾器/雙規(guī)格準直器
激光單定焦距
4096 多通道數字處理器,自動死時間和逃逸峰校正
英特爾, 酷睿 i5 3470 處理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 內存, 微軟 Windows 10 *版, 64位
1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率
150W,100-240V,頻率范圍為47Hz至63Hz
25kg
不可用
高度:125mm(5"),寬度:380mm(15"),深度:300mm(12")
高度:400mm(16"),寬度:400mm(16"),深度:380mm(15")
關于美國博曼:
美國博曼(Bowman)是高精度臺式鍍層測厚儀供應商,擁有近40年的行業(yè)經驗。博曼XRF系統(tǒng)搭載擁有知識產權的鍍層檢測技術和*的軟件系統(tǒng),可*高效地分析金屬鍍件中元素厚度和成分。博曼XRF系統(tǒng)可同時測量包含基材在內的五層元素,其中任何兩層元素可以是合金。同時,博曼XRF系統(tǒng)也可以測量高熵合金(HEAs)。
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博曼G系列產品概述:
G系列是博曼*的一款機型。該機型機構緊湊,沒有可移動部件。與博曼其他系列不同,該系列X射線照射方式采用自下往上式。用戶可將樣品放置在一個清晰的測試窗口上,并使用相機對圖像進行定位。G系列的樣品倉較小,可手動調整樣品位置測量樣品,該系列主要應用于珠寶和其他貴金屬行業(yè)的鍍層分析與應用。
G系列標準配置包括一個固定準直器,一個固定焦距的相機,固態(tài)PIN探測器和質量可靠的微聚焦X射線管。與其他型號一樣,該型號也可升級為包括多個準直器,可變焦點相機和SDD探測器。
博曼G系列可滿足以下類型用戶的需求:
- 樣品測試量相對較小
- 客戶或供應商對于鍍層提出了新要求
- 主要分析珠寶或其他貴金屬
- 預留擺放空間小
- 預算有限
博曼G系列產品參數:
類別
參數
元素測量范圍:
X射線管:
探測器:
分析層數及元素數:
濾波器/準直器:
焦距:
數字脈沖器:
計算機:
相機:
電源:
重量:
馬達控制/可編程XY平臺:
延伸可編程XY平臺:
樣品倉尺寸:
外形尺寸:
13號鋁元素到92號鈾元素
50 W(50kV和1mA)微聚焦鎢鈀射線管
190eV及以上分辨率的Si-PIN固態(tài)探測器
5層,每層可分析10種元素,成分分析*多可分析25種元素
4位置一次過濾器/雙規(guī)格準直器
激光單定焦距
4096 多通道數字處理器,自動死時間和逃逸峰校正
英特爾, 酷睿 i5 3470 處理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 內存, 微軟 Windows 10 *版, 64位
1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率
150W,100-240V,頻率范圍為47Hz至63Hz
25kg
不可用
不可用
高度:125mm(5"),寬度:380mm(15"),深度:300mm(12")
高度:400mm(16"),寬度:400mm(16"),深度:380mm(15")
關于美國博曼:
美國博曼(Bowman)是高精度臺式鍍層測厚儀供應商,擁有近40年的行業(yè)經驗。博曼XRF系統(tǒng)搭載擁有知識產權的鍍層檢測技術和*的軟件系統(tǒng),可*高效地分析金屬鍍件中元素厚度和成分。博曼XRF系統(tǒng)可同時測量包含基材在內的五層元素,其中任何兩層元素可以是合金。同時,博曼XRF系統(tǒng)也可以測量高熵合金(HEAs)。