fct功能測(cè)試是什么？功能測(cè)試（FT：Functional Test或FCT：Functional Circuit Test）指的是對(duì)測(cè)試目標(biāo)板（UUT：Unit Under Test）的提供模擬的運(yùn)行環(huán)境，加載合適的激勵(lì)或負(fù)載，使UUT工作于各種設(shè)計(jì)、工作狀態(tài)，從而獲取UUT點(diǎn)的輸出參數(shù)和響應(yīng)情況，進(jìn)行驗(yàn)證UUT的功能是否良好的測(cè)試方法，測(cè)量輸出端響應(yīng)是否合乎要求。

fct功能測(cè)試是什么：電路板fct功能測(cè)試系統(tǒng)簡(jiǎn)介

功能測(cè)試涉及負(fù)載、機(jī)構(gòu)、模擬、數(shù)字、存儲(chǔ)器、RF和電源電路，通常要用不同的測(cè)試策略。測(cè)試包括大量實(shí)際重要功能通路及結(jié)構(gòu)驗(yàn)證（確定沒有硬件錯(cuò)誤），以彌補(bǔ)前面測(cè)試過程遺漏的部分。這需要將大量模擬/數(shù)字激勵(lì)不斷加到被測(cè)單元（UUT）上，同時(shí)監(jiān)測(cè)同樣多數(shù)量的模擬/數(shù)字響應(yīng)，并完全控制其執(zhí)行過程。

測(cè)試系統(tǒng)的基本組成部分

fct測(cè)試系統(tǒng)硬件主要由測(cè)試機(jī)臺(tái)，控制單元,測(cè)試設(shè)備三部分組成：

1. 測(cè)試機(jī)臺(tái)由機(jī)柜和壓床組成：機(jī)柜用于擺放各類集成設(shè)備，壓床是用來(lái)固定和控制測(cè)試治具與PCB板的接觸，便于完成所有功能測(cè)試。

2. 測(cè)試控制單元作為功能測(cè)試的核心部分，通過控制單元切換各種控制信號(hào)為PCB功能測(cè)試提供條件，還可以將多路輸出電壓信號(hào)通過分時(shí)復(fù)用的方式切換至萬(wàn)用電表，實(shí)現(xiàn)功能量測(cè)。

3. 測(cè)試設(shè)備包括：交流源，直流源，負(fù)載，功率計(jì)，萬(wàn)用電表，示波器，信號(hào)發(fā)生器等各種設(shè)備，根據(jù)PCB測(cè)試功能要求不同進(jìn)行選配。

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