SGW X-4顯微熔點(diǎn)儀

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SGW X-4

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更新時(shí)間
2020-04-15 08:51:17

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    SGW X-4顯微熔點(diǎn)儀：

    特點(diǎn)：測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之熔點(diǎn)測(cè)定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管示測(cè)定，又可用載玻片－蓋玻片法(熱臺(tái)法)測(cè)定。
    熔點(diǎn)測(cè)量范圍：室溫至320℃
    測(cè)量重復(fù)性：≤ 200℃： ±1℃，
                      ＞200℃： ±2℃
    光學(xué)放大倍數(shù)：目鏡10X，物鏡4X

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