XT-50沖擊試樣缺口投影儀

價(jià)格
電議

型號(hào)
XT50

品牌
雙旭電子

所在地
暫無(wú)

更新時(shí)間
2023-01-05 21:35:35

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    XT-50沖擊試樣缺口投影儀

    XT-50沖擊試樣缺口投影儀

    一、沖擊試樣缺口投影儀XT-50概述：

    XT-50沖擊試樣缺口投影儀隨著國(guó)內(nèi)工業(yè)技術(shù)的發(fā)展，越來(lái)越多的行業(yè)已經(jīng)開(kāi)始執(zhí)行《金屬夏比沖擊試驗(yàn)方法》該標(biāo)準(zhǔn)對(duì)試樣要求相當(dāng)嚴(yán)格，所以在整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程中，試樣的加工是否合格會(huì)直接影響終的試驗(yàn)結(jié)果。如果試樣加工質(zhì)量不合格，那么其試驗(yàn)結(jié)果是不可信的，特別是試樣缺口的微小變化可能會(huì)引起試驗(yàn)結(jié)果的巨大陡跳，尤其是在試驗(yàn)的臨界值時(shí)，會(huì)引起產(chǎn)品的合格或報(bào)廢兩種截然相反的不同結(jié)局。為保證試樣缺口的合格，其質(zhì)量檢驗(yàn)是一個(gè)重要的控制手段，目前，用光學(xué)投影放大檢驗(yàn)是切實(shí)可行的方法。
    XT-50型沖擊試樣投影儀是我公司根據(jù)廣大用戶的實(shí)際需要和GB/T299-1994《金屬夏比沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而開(kāi)發(fā)的一種于檢驗(yàn)夏比V型和U性型缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V型和U型缺口輪廓放大50倍后投射到投影屏上，與投影屏上的沖擊試樣V型和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對(duì)比，以確定被檢測(cè)的試樣缺口是否合格。XT-50沖擊試樣缺口投影儀其優(yōu)點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便，對(duì)比直觀。
    三、沖擊試樣缺口投影儀XT-50主要參數(shù)：

     

     

    投影屏直徑：
    180mm
    工作臺(tái)尺寸：
    方工作臺(tái)尺寸：
    110×125mm
    圓工作臺(tái)直徑：
    90mm
    工作臺(tái)玻璃直徑：
    70mm
    工作臺(tái)行程：
    縱向：
    ±10mm
    橫向：
    ±10mm
    升降：
    ±12mm（無(wú)刻度）
    工作臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍：
    0-360°（無(wú)刻度）
    放大倍數(shù)：
    儀器放大倍率：
    50X
    物鏡放大倍率：
    2.5X
    投影物鏡放大倍率：
    20X
    光源（鹵鎢燈）：
    12V 100W
    外形尺寸：
    515×224×603mm（長(zhǎng)×寬×高）
    重量：
    約18Kg

     

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