雷達物位計天線發(fā)射極窄的微波脈沖，這個脈沖以光速在空間傳播，遇到被測介質(zhì)表面，其部分能量被反射回來，被同*線接收。發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間間隔與天線到被測介質(zhì)表面的距離成正比，從而計算出天線到被測介質(zhì)表面的距離。XZRD雷達液位計采用*的回波處理技術，“虛假回波學”功能使得儀表在多個虛假回波的工況下，可正確地確認真實回波，獲得準確的測量結果。

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