產(chǎn)品概述：

標(biāo)智GM100超聲波測(cè)厚儀是一款智能化手持式超聲波測(cè)厚儀， 采用微處理器控制，利用超聲波測(cè)量原理， 能夠快速、無(wú)損傷、地測(cè)量多種材料的厚度及聲速。 此儀器可用在工業(yè)生產(chǎn)領(lǐng)域中對(duì)各種材料或零件作測(cè)量， 還可以對(duì)生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器進(jìn)行監(jiān)測(cè)， 能夠及時(shí)準(zhǔn)確的測(cè)出各種零件在使用過(guò)程中受腐蝕后的減薄程度。 還可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。凡是超聲波能以恒定速度傳播且對(duì)背面產(chǎn)生的反射波可分辨的各種材料均適用于此儀器。

超聲波測(cè)厚儀，防雷測(cè)試儀適用范圍金屬、塑料、陶瓷、玻璃及其他任何超聲波的良導(dǎo)體， 只要有上、下平行的兩個(gè)表面， 即可用此儀器測(cè)量厚度,例如:鋁、銅、金、樹(shù)脂、水、甘油等。鑄鐵因其內(nèi)部晶粒過(guò)于

過(guò)于粗大， 不宜使用本儀器！

基本原理：

測(cè)厚儀由發(fā)射電路、接收電路、高頻振蕩器、計(jì)數(shù)門、計(jì)數(shù)器、中央處理器、 鍵盤、 顯示器等部分組成。 其原理與光波測(cè)量原理相似。探頭發(fā)射的超聲波脈沖到達(dá)被測(cè)物體并在物體中傳播， 到達(dá)材料分界面時(shí)被反射回探頭， 通過(guò)測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。

基本要求：

1.對(duì)于工作面積大于或等于探頭面積的工件， GM100超聲波測(cè)厚儀均可測(cè)量， 但對(duì)細(xì)長(zhǎng)件進(jìn)行軸向測(cè)量或工作側(cè)面不是垂直于測(cè)試面的平面時(shí)， 測(cè)試面不宜過(guò)小， 否則可能引起誤差。率半徑的要求為R≥10mm， 工作壁厚≥3mm。

3.本儀器對(duì)被測(cè)工件粗糙度的要求很寬， 一般情況下， 使用我司標(biāo)準(zhǔn)配置的探頭均可準(zhǔn)確測(cè)量， 但如果由于銹蝕嚴(yán)重或其它原因造成粗糙度過(guò)大， 將有可能造成誤差， 這種情況下應(yīng)設(shè)法減小粗糙度或選用頻率為2.5MHz的探頭。 若探頭損壞， 可向本公司或各地代理處購(gòu)買。

4.材料的厚度與超聲波傳播的速度都會(huì)受溫度的影響。 對(duì)于一般精度要求的測(cè)量， 環(huán)境溫度的影響可忽略不計(jì)。另外由于探頭表面材料為丙烯樹(shù)脂，  出于對(duì)探頭的保護(hù)和度保證，工作環(huán)境的表面溫度不得高于60℃，否則探頭不能使用。

5.工作環(huán)境： 工作溫度： 0~40℃     相對(duì)濕度：<90% 工件溫度：<60℃儀器工作時(shí)確保無(wú)強(qiáng)烈振動(dòng)、 無(wú)腐蝕性介質(zhì)。嚴(yán)格避免碰撞、 潮濕等。

測(cè)量技術(shù)：

1.清潔表面

測(cè)量前應(yīng)清除被測(cè)物體表面所有的灰塵、 污物及銹蝕物，鏟除油漆等覆蓋物。

2.降低粗糙度

過(guò)份粗糙的表面會(huì)引起測(cè)量誤差， 甚至儀器無(wú)讀數(shù)。 測(cè)量前應(yīng)盡量使被測(cè)材料表面光滑， 可使用砂、磨、拋、銼等方法， 還可使用高粘度耦合劑。

3.粗機(jī)加工表面：

粗機(jī)械加工的表面 （如車床或創(chuàng)床） 所造成的有規(guī)則的細(xì)槽也會(huì)引起測(cè)量誤差， 彌補(bǔ)方法同四-2；  另外調(diào)整探頭串音隔層板 （穿過(guò)探頭底面中心的金屬簿層） 與被測(cè)材料細(xì)槽之間的夾角 （正交或平行） 也可能取得較好效果。

4.測(cè)量圓柱型表面：

測(cè)量圓柱型材料， 如管子、 油桶等， 選擇探頭串音隔層板與被測(cè)材料軸線之間的夾角至關(guān)重要。 簡(jiǎn)單地說(shuō)， 將探頭與沿與被測(cè)材料軸線方向垂直地緩慢搖動(dòng)探頭， 屏幕上的讀數(shù)將有規(guī)則地變化，選擇讀數(shù)中的總線小值，作為材料的準(zhǔn)確厚度。選擇探頭串音隔層板與被測(cè)材料軸線交角方向的標(biāo)準(zhǔn)取決于材料的曲率， 直徑較大的管材， 選擇探頭串音隔層板與管子軸線垂直； 直徑較小的管材， 則選擇與管子軸線平行和垂直兩種測(cè)量方法， 取讀數(shù)中的總線小值作為測(cè)量厚度。