博曼G系列產(chǎn)品概述：

G系列是博曼具的一款機(jī)型。該機(jī)型機(jī)構(gòu)緊湊，沒有可移動(dòng)部件。與博曼其他系列不同，該系列X射線照射方式采用自下往上式。用戶可將樣品放置在一個(gè)清晰的測(cè)試窗口上，并使用相機(jī)對(duì)圖像進(jìn)行定位。G系列的樣品倉較小，可手動(dòng)調(diào)整樣品位置測(cè)量樣品，該系列主要應(yīng)用于珠寶和其他貴金屬行業(yè)的鍍層分析與應(yīng)用。

G系列標(biāo)準(zhǔn)配置包括一個(gè)固定準(zhǔn)直器，一個(gè)固定焦距的相機(jī)，固態(tài)PIN探測(cè)器和質(zhì)量可靠的微聚焦X射線管。與其他型號(hào)一樣，該型號(hào)也可升級(jí)為包括多個(gè)準(zhǔn)直器，可變焦點(diǎn)相機(jī)和SDD探測(cè)器。

博曼G系列可滿足以下類型用戶的需求：

- 樣品測(cè)試量相對(duì)較小

- 客戶或供應(yīng)商對(duì)于鍍層提出了新要求

- 主要分析珠寶或其他貴金屬

- 預(yù)留擺放空間小

- 預(yù)算有限

關(guān)于美國(guó)博曼：

美國(guó)博曼（Bowman）是高精度臺(tái)式鍍層測(cè)厚儀供應(yīng)商，擁有近40年的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)。博曼XRF系統(tǒng)搭載擁有知識(shí)產(chǎn)權(quán)的鍍層檢測(cè)技術(shù)和的軟件系統(tǒng)，可高效地分析金屬鍍件中元素厚度和成分。博曼XRF系統(tǒng)可同時(shí)測(cè)量包含基材在內(nèi)的五層元素，其中任何兩層元素可以是合金。同時(shí)，博曼XRF系統(tǒng)也可以測(cè)量高熵合金（HEAs）。