儀器簡介： JEM-2100F 應(yīng)用廣泛，從材料科學、生命科學、醫(yī)療、制藥、半導體到納米技術(shù)。 利用200kV場發(fā)射透射電鏡JEM-2100F，不僅可實現(xiàn)高分辨率圖像的觀察，同時，還可以得到納米尺度的結(jié)構(gòu)、成分等信息。 高亮度的場發(fā)射電子槍，輕松實現(xiàn)各種分析功能。 JEM-2100F*設(shè)計的側(cè)插式側(cè)角臺，在傾斜、旋轉(zhuǎn)、加熱、制冷時都不會造成機械飄移。 SJEM-2100F可與TEM, MDS, EDS, EELS, and CCD-camera實現(xiàn)一體化控制。