SGW X-4顯微熔點儀

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SGW X-4

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暫無

更新時間
2020-04-15 08:51:17

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    SGW X-4顯微熔點儀

    特點:測定物質(zhì)的熔點。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機化合物之熔點測定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管示測定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺法)測定。
    熔點測量范圍:室溫至320℃
    測量重復(fù)性:≤ 200℃: ±1℃,
                      >200℃: ±2℃
    光學(xué)放大倍數(shù):目鏡10X,物鏡4X

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