三維光學(xué)輪廓儀ContourX-100

價(jià)格
電議

型號(hào)
ontourX-100

品牌
Bruker

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暫無

更新時(shí)間
2024-08-08 11:38:06

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    三維光學(xué)輪廓儀ContourX-100該小尺寸系統(tǒng)采用流線型設(shè)計(jì),結(jié)合了數(shù)十年專有的布魯克白光干涉儀(WLI)創(chuàng)新,可提供毫不遜色的2D/ 3D高分辨率測量功能。

    新一代增強(qiáng)功能包括新的五百萬像素?cái)z像頭,新的載物臺(tái)和新的測量模式,提供了更大的靈活性。ContoutX-100光學(xué)輪廓儀是一臺(tái)極有價(jià)值的計(jì)量設(shè)備。


    快速、可重復(fù)的三維計(jì)量 

    • 與放大倍率無關(guān)的業(yè)界*Z軸分辨率 

    • *尺寸的標(biāo)準(zhǔn)視場 

    • *穩(wěn)定性和重復(fù)性的集成防震設(shè)計(jì) 


    *的測量和分析功能

    • 易于使用的界面,可快速準(zhǔn)確地獲得結(jié)果 

    • *廣泛的濾鏡和分析工具選項(xiàng),用于粗糙度和關(guān)鍵尺寸測量分析 

    • 滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標(biāo)準(zhǔn)在內(nèi)的定制化分析報(bào)告


    *的計(jì)量功能 

    ContourX-100輪廓儀是布魯克在非接觸表面計(jì)量、表征和成像領(lǐng)域過四十年的專有光學(xué)創(chuàng)新和作為行業(yè)*的結(jié)晶。該系統(tǒng)結(jié)合三維白光干涉和二維成像技術(shù)在單次測量中實(shí)現(xiàn)多種分析。ContourX-100對于反射率從0.05%到100%的各種表面都非常易于測量。 


    *的分析與回報(bào) 

    通過上千項(xiàng)自定義分析功能和簡易但功能強(qiáng)大的 VisionXpress?和Vision64®用戶界面,ContourX-100為提高 實(shí)驗(yàn)室和工廠車間的生產(chǎn)率進(jìn)行了優(yōu)化。這種的硬件和軟件組合提供了對高重復(fù)性和高通量計(jì)量學(xué)測量的便捷訪問,完全過了同類計(jì)量技術(shù)。 


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